簡(jiǎn)要描述:日本J-RAS 500V離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), , 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000 小時(shí))并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
---|---|---|---|
加工定制 | 是 | 計(jì)測(cè)Channel數(shù) | 10CH |
計(jì)測(cè)電阻值范圍 | 2kΩ~20TΩ | 試驗(yàn)設(shè)定時(shí)間 | 1分~9999小時(shí) |
日本J-RAS 500V離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置用途
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000 小時(shí))并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。( ION MIGRATION TESTING )
在高溫高濕條件下,對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。
適用規(guī)格 : JPCA- - ET01- - 2001
500Vの印加電圧で試験可能!エレクトロケミカルマイグレーションテスター
絶縁抵抗測(cè)定器 ECM-500シリーズ
製品の特?
1V?500Vのワイド印加電圧&CH個(gè)別電圧出力で様々なサンプルの試験が可能
CH個(gè)別計(jì)測(cè)回路搭載により50msec/CHの高速スキャン処理
応答速度100nsec以下の瞬時(shí)リーク電流検出回路でリークタッチ現(xiàn)象を確実にキャッチ
最大100CHの筐體は小型軽量で場(chǎng)所を選ばず設(shè)置でき移設(shè)も容易
チャンバー扉開(kāi)の接點(diǎn)利用で緊急停止または一時(shí)停止を行える安全機(jī)能
はんだ付け作業(yè)の負(fù)擔(dān)を減らしミスを防ぐCH別カラーケーブルを採(cǎi)用
省電力の専用設(shè)計(jì)で130VAの省エネを?qū)g現(xiàn)(100CH実裝)
シンプルで使いやすい専用ソフトウェア
電話(huà)
微信掃一掃